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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測(cè)量，可以根據(jù)客戶需要，選擇不同的溫度和磁場(chǎng)配置
產(chǎn)品分類
低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測(cè)量，可以根據(jù)客戶需要，選擇不同的溫度和磁場(chǎng)配置?？蛻艨梢赃x擇自己搭配測(cè)試儀表集成各類測(cè)試，也可以選擇我們的整體測(cè)試解決方案，如電輸運(yùn)測(cè)試、半導(dǎo)體分析測(cè)試、霍爾效應(yīng)測(cè)試、鐵電分析測(cè)試，集成光學(xué)測(cè)試等。
┃ 設(shè)備特點(diǎn)
±2.5T磁場(chǎng)，可定制5T磁場(chǎng)
低溫至1.6K，高溫至675K
可測(cè)8英寸晶圓樣品
67GHz高頻探針
3 kV 高電壓探針
大溫區(qū)低溫漂探針
真空腔聯(lián)用傳送樣品
＜30 nm低振動(dòng)適用于顯微光學(xué)測(cè)量
霍爾效應(yīng)、鐵電、半導(dǎo)體分析測(cè)試選件
關(guān)注公眾號(hào)
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